Informazioni dettagliate sul diffrattometro intelligente a raggi X della serie SmartLab:

1,Introduzione dello strumento

intelligenzaXXRDSmartLabLa serie è un dispositivo ad alte prestazioni e multifunzionale nel mondo di oggiXIl diffrattometro a raggi X adotta i principi della fisicaCBOSistema ottico trasversale, riconoscimento automatico di tutti i componenti ottici, stadio del campione, software intelligente di misurazione e analisiSmartLab GuidanceUno strumento può saggiare intelligentemente i campioni ordinari della polvere, i campioni liquidi, i nanomaterials, le droghe, i semiconduttori e i campioni del film sottile.

2,Parametri tecnici

1、XLa potenza del generatore di radiazioni è3KWNuovo tipo9KWSpostamento dell'obiettivo

2Lo strumento di misurazione dell'angolo è uno strumento di misurazione orizzontale dell'angolo

3Il passo più piccolo dello strumento di misura dell'angolo è1/10000Grado, lo strumento di misura dell'angolo di più alta precisione (doppia codifica ottica, posizionamento ad asse diretto) (Scienza)

4Strumento di misura dell'angolo con fessura variabile programmabile

5Identificare automaticamente tutti i componenti ottici e le fasi del campione (in scienza)

6、CBOPercorso ottico trasversale, fornendo percorso ottico focalizzato e percorso ottico parallelo ad alta risoluzione ad alta intensità (conMirror(Scienza)

7Componente di prova di dispersione angolare piccolo(SAXS / Ultra SAXS)

8Componenti di prova multiuso per pellicole sottili

9Componenti di prova per microareaCBO-FComponenti ottici di micro area

10、In-PlaneComponente di prova (unico per la scienza)

11Fine incidenteKa1Componenti ottici

12Rilevatore ad alta velocitàD/teX-Ultra(Risoluzione energetica)20%Sotto)

13Esplorazione 2D delle superficiPILATUS 100K/R(Rivelatore per circuito di radiazione sincrotronica, in grado di ricevere radiazioni diretteXraggio)

14Software intelligente di misurazione e analisiSmartLab Guidance（）

3,Caratteristiche principali

intelligenzaXXRDSmartLabLa serie può essere ampiamente applicata in vari campi dell'analisi della struttura materiale.

I materiali che possono essere analizzati includono: materiali metallici, materiali inorganici, materiali compositi, materiali organici, nanomateriali e materiali superconduttori

Gli stati del materiale che possono essere analizzati includono: campioni della polvere, campioni del blocco, campioni del film sottile e micro campioni di area micro

Le principali applicazioni sono:

1. Analisi qualitativa e quantitativa della composizione di fase dei campioni in polvere

2. Calcola cristallità e granulometria

3. Determina il sistema di cristallo, la dimensione del grano e la distorsione

4. Rietveldanalisi quantitativa

5. Analisi del campione del film sottile, compresa la fase del film sottile, lo spessore del film multistrato, la rugosità superficiale e la densità di carica

6. In-PlaneIl dispositivo può misurare simultaneamente la struttura verticale del campione e la struttura di profondità del campione

7. Piccolo angolo di dispersione e distribuzione di dimensione delle particelle dei nanomaterials

8. Analisi dei campioni di microarea